碳酸鹽巖儲(chǔ)集層雙折射分析圖像光學(xué)顯微鏡
橫波雙折射是目前預(yù)測(cè)各類儲(chǔ)層裂縫的有效方法，能可靠地預(yù)測(cè)裂縫
帶的存在及其主要走向。也可估算裂縫密度。該方法尚處于初勘階段，是
大有發(fā)展?jié)摿Φ摹?BR> 高分辨率勘探技術(shù)
碳酸鹽巖儲(chǔ)層厚度通常較小，特別是縫洞性儲(chǔ)層，橫向分布范圍有限
，常規(guī)的地震資料往往不能分辨這些厚度較小、延伸范圍較窄的儲(chǔ)集層。
因此，必須采用高分辨地震勘探技術(shù)。高分辨率勘探所獲得的地震資料是
利用各種地震預(yù)測(cè)技術(shù)進(jìn)行儲(chǔ)層橫向預(yù)測(cè)的基礎(chǔ)和主要信息來(lái)源。同時(shí)，
提高地震勘探的分辨率也是目前及其今后物探技術(shù)的主要任務(wù)。
地震勘探的分辨率是地震資料沿垂直方向所能分辨最薄層厚度和沿水
平方向所能分辨最小地質(zhì)體寬度的能力。高分辨率地震勘探技術(shù)是通過(guò)專
門的地震資料野外采集、室內(nèi)處理和解釋方法來(lái)努力提高地震剖面分辨率
的一項(xiàng)技術(shù)。高分辨率地震剖面與常規(guī)地震剖面相比，其分辨地層的能力
有明顯的提高。因此，高分辨率地震剖面對(duì)碳酸鹽巖的裂縫層、薄孔洞層
、規(guī)模較小的礁體以及小幅度構(gòu)造和下裂縫伴生的小斷層等都有不同程度
的反映，這對(duì)利用地震技術(shù)預(yù)測(cè)碳酸鹽巖儲(chǔ)集層創(chuàng)造了條件。
由于碳酸鹽儲(chǔ)層特別是裂縫性儲(chǔ)層發(fā)育規(guī)律十分復(fù)雜，其勘探難度很
大。而每一種緒層預(yù)測(cè)地震技術(shù)都是以碳酸鹽巖儲(chǔ)層地震響應(yīng)中某方向的
特征為基礎(chǔ)，這在解決實(shí)際地質(zhì)問(wèn)題時(shí)都存在多解性和局限性。如果只利
用某種物探方法或某種物探資料或地震信息來(lái)解決復(fù)雜的碳酸鹽巖儲(chǔ)層問(wèn)
題，這顯然是很困難的或無(wú)能為力的。但是，各項(xiàng)地震信息反映的都是同
一地層，它們之間是相互聯(lián)系的。因此，只是綜合分析、統(tǒng)計(jì)處理各種與
碳酸鹽
