鑒定礦石樣品晶體和顯微結(jié)構(gòu)光學顯微鏡

    偏光系統(tǒng)的校正

    礦相顯微鏡在進光管中裝有前偏光鏡(4)，其振動方向應垂直于反
射器的對稱面，并與上偏光鏡振動方向垂直。上偏光鏡振動方向一般
處于南北向，前偏光鏡應處在東西向。可用雙反射顯著的石墨或輝鉬
礦的光片來檢查，反射率最大時，晶體延長方向即為前偏光的振動方
向。
    前、上偏光鏡正交的校正，是用高反射率的黃鐵礦光片在強光照
射的低倍物鏡下進行的。二者正交時將出現(xiàn)平行目鏡十字絲豎絲的南
北向黑帶，在黑帶兩側(cè)對稱呈略帶灰色，否則就不正交，需轉(zhuǎn)動兩偏
光鏡之一使黑帶通過視域中心，且黑帶兩側(cè)及兩端的明亮程度一致即
可。

     反光顯微鏡試樣的制備
    反光顯微鏡研究要將試樣制成磨光片，簡稱為光片。為更好地鑒
定晶體和研究顯微結(jié)構(gòu)，有時將0．03mm厚的薄片一面拋光制成光薄片
，對同一試樣可同時進行透射光和反射光研究，因此，制備試樣光片
和光薄片是必須掌握的基礎工作。

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