各類顯微鏡在納米材料結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用？
Scanning Electron Microscope (SEM):
掃描電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構(gòu)與膠凝作用技術(shù)之ㄧ。利用掃描入射電子束與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的各種信號(如二次電子、X射線譜等)，采用不同的信號檢測器來觀察樣品表面形貌和化學組成的分析技術(shù)。
Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS):
掃描式電移動度微粒分析儀、掃描漂移動微粒分析儀、掃描移動微粒分析。可以準確量測微粒之粒徑（0.005~1.0 μm）分佈及數目濃度。
Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM):
掃描近場光學顯微鏡。利用孔柵限制的光纖掃描探針，在距離樣品表面一個波長以內(nèi)探測樣品表面的光學特性變化，將光信號的變化轉(zhuǎn)換成圖像，獲得樣品表面結(jié)構(gòu)及光學特性的分析技術(shù)。
Scanning Probe Microscopy (SPM):
掃描探針顯微鏡。利用測量掃描探針與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的信號，在奈米級或原子級的水平上研究物質(zhì)表面的原子和分子的幾何結(jié)構(gòu)及相關(guān)物理、化學性質(zhì)的分析技術(shù)。
Scanning Thermal Microscopy (STHM):
掃描熱顯微鏡。透過控制、調(diào)節(jié)表面蓋有鎳層的鎢絲探針針尖與樣品間距，進行恒溫掃描，觀察樣品表面微區(qū)形貌的分析技術(shù)。
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM):
掃描穿透電子顯微鏡。
Scanning Tunneling Microscopy (STM):
掃描隧道顯微鏡、掃描穿隧顯微鏡。利用曲率半徑為原子尺度的金屬針尖，在導體或半導體樣品表面掃描，在針尖與樣品間加一定電壓，利用“量子隧道效應(yīng)”來獲得反映樣品表面微區(qū)形貌及電子態(tài)圖像的分析技術(shù)。所謂隧道效應(yīng)系指粒子可穿過比本身總能量高的能量障礙。
Transmission Electron Microscopy (TEM):
穿透式電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構(gòu)與膠凝作用技術(shù)之ㄧ；以透射電子為成像信號，透過電子光學系統(tǒng)的放大成像觀察樣品的微觀組織和形貌的分析技術(shù)。
